安捷伦4291B射频阻抗/材料分析仪提供高精确度和便于测量表面贴装元件和介质/磁性材料的整体解决方案。

基本阻抗精度为+ / - 0.8％。高Q精度有利于低损耗成分分析。内部合成器扫过频率为1 MHz至1.8 GHz的1 mHz的分辨率。1.8米误差小于电缆分析仪连接到测试站，因此您可以扩展您的测试点离分析仪，而不会失去准确性。先进的校准和误差补偿功能消除测量误差的因素夹具，保证高精确性和可重复性在DUT / MUT。

安捷伦4291B还提供了自动电平控制和测试信号的显示器用IBASIC编程; 设备可以以恒定的电压或电流下进行测量。测量与可选的直流偏置（高达40 V和100 mA时）偏置相关的阻抗特性。在按下按钮，内置的等效电路分析功能自动计算五种电路模型的电路常数的值。

安捷伦4291B有两个测量通道; 每个通道可设置为测量单个（例如，Z）或双（例如，Z-θ）阻抗参数。色的TFT分割显示屏可以显示各种动态的痕迹和记忆痕迹（存储在RAM中）。内置的软盘驱动器用于存储程序和在任LIF或MS-DOS格式的测试数据。带有内置IBASIC，您可以控制外部测试设备，如直接从安捷伦4291B的温度室或晶圆探针台。你不需要一个单独的仪器控制器。

安捷伦4291B可方便和先进的材料评估，提高材料评估的质量和效率。它提供的频率范围内，1 MHz至1 GHz，总介电/磁性材料测量解决方案。

四种元件测试夹具（被测件尺寸：0.5毫米至20毫米）

在2路独立的参数选择

直接读出介电常数，导磁率（选项）

两种材料夹具（工作温度：-55deg C到+200摄氏度）

多才多艺的分析（温度，科尔 - 科尔图，弛豫时间）

扫描参数（频率，交流电平，直流偏置电压，温度）的

阻抗参数：| Z |，θ Ž，| Y |，θ 荻，R，X，G，B，C p，C s，L p，L s，R p，R s，D，Q，|Γ| ，θ ý，Γ x，Γ ý

频率特性

工作频率：1 MHz至1.8 GHz的

频率分辨率：1兆赫