Agilent 8509C光偏振分析仪覆盖L波段，可对光信号和元件进行宽工作范围的测量。自动的测量步骤简化了PMD、PDL和保偏光纤对准。对于10至40Gb/s测试，8509C可测量至0.01ps的偏振模式色散。对光信号和材料偏振特性的快速和精确的测量可帮助开发更高性能的光元件和系统，以及低成本的制造流程。

特点：

1.对光信号和光器件进行全面的极化状态分析

2.两种PMD分析方法：波长扫描法和JONES矩阵法

3.极化保偏光纤的对准

仪器保证：

我们的大多数设备在装运之前均经过严格的质量检测与校验。也可申请国家计量证书。